本文主要介绍热处理晶粒度检测中，截点法的操作方法，介绍金相分析软件中部分晶粒度测量的方式。
1、截点法的分类及应用中的注意事项
（1）直线截点法注意事项
一条或数条直线，适当的测量网格长度和放大倍数，保证至少能截获50个截点。
截点的计算。
选择3-5个视场进行测量。
非等轴晶粒的测量。
（2）单圆截点法注意事项
适用于试样不同位置晶粒度有明显差别的材料。
使用的测量网格圆可以为任一周长，通常使用100mm， 200mm，250mm。
选择适当的放大倍数，以保证每个圆周产生35个左右截点。
所需的几个圆周任意分布在尽可能大的检验面上，视场数增加直至获得计算精度。
（3）三圆截点法注意事项
试验表明，每个试样截点计数达500时，常获得可靠的精确度。
测量网格由3个同心等距，总周长为500mm的圆组成。将网格用于测量任意选择的无个视场上，分别记录每次的截点数。
选择适当的放大倍数，使三个圆的试样网格在每个视场上产生50-100个截点计数，使通过选择的5个视场可获得400-500个总截点数。
测量网格通过三个晶粒汇合点时，截点计数为2个。
2、非等轴晶试样晶粒度的测定
（1）对于矩形的棒材或板材晶粒应在其纵向、横向、及法相截面上进行测定，圆棒材应在纵向和横向上测定。如果等轴偏差不大（3:1形状比），可在纵向试样上使用圆形测量网格进行分析。如果使用直线取向测量网格进行测定，可使用三个主要截面的任意两个面进行三个取向的测量。
（2）面积法
n平 =（n横n纵n法）1/3
n平 ：每mm2 内的平均晶粒数。
G=3.322lgn平 -2.9542
（3）截点法
可使用圆测量网格随机地放在三个主检测面上进行。或使用直线段在3个或6个主方向上2个或3个主检测面上进行截点计数。对于等轴形状偏离不太严重（≤3:1形状比）的晶粒度的测量使用圆测量网格在纵向面上进行测量。
晶粒度测量中，测量直线的6种可能取向
截点法晶粒度的计算
G=6.6439lgp1 -3.288
p1 =（p1l ·p1t ·p1n）1/3
p1l 、p1t 、p1n 分别为纵向、横向、法相基本平面上单位长度的截点数。
通过截点数，计算出平均截距，可以确定晶粒伸长率和各向异性系数。
3、晶粒度数值的表示方法
1）通常以晶粒平均直径，平均截距，晶粒平均截面积及晶粒度级别数G来表示。
2）因为晶粒度的各种数值表示都是由初测值na（每mm2内的平均晶粒数）或p1（每mm内的截点数）的对数或倒数的关系求出。所以表示一组试样的晶粒度，不能简单地将各个晶粒度计数值进行平均。
3）若试样中发现晶粒不均匀现象，经全面观察后，如属偶然或个别现象，可不予计算。如较为普遍，则应计算出不同级别晶粒在视场中各占的面积百分比。若晶粒所占的面积百分比不少于视场面积的90%，则只记录次一种晶粒的级别数。否则，应用不同级别数来表示该试样的晶粒度，其中第一个级别数代表占优势的级别数。
4）如需要对混合晶粒度评定时，可将混合各部分的晶粒分别按单峰分布评定平均晶粒度，并测定各部分的晶粒所占的百分比。如8级70%，3级30%。
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